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全（单）光谱椭偏仪

RADITECH公司是国内自行开发的全光谱膜厚测量仪的制造商，产品使用方便，性价比高，是各大研究院校和集成光电制造商之膜厚测量首选。

	使用便捷，性能稳定，价格低廉，测量材料范围广，是一款真正具有可比性的测量仪器。
	6寸以下晶圆表面膜厚以及材料分析的最佳选择，量测范围：248-850nm。
	本公司备有DEMO机台，可以免费量测Sample。