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全光谱膜厚测量仪
RADITECH公司是国内自行开发的全光谱膜厚测量仪的制造商，产品使用方便，性价比高，是各大研究院校和集成光电制造商之膜厚测量首选。
量测时间1—3秒，精确度高。
可以量测穿透率（T%）量测色度坐标，膜厚（N，K）值，反射率（R%）。
本公司备有DEMO机台，可以免费量测Sample。
