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表面轮廓仪(台阶仪)

High Resolution Surface Profilometer价格低，体积小巧，性能卓越。

	可用于测量轮廓、台阶高度、膜厚、薄膜应力，用于控制各种薄膜的生长工艺。
	台阶仪带有极低接触力选件、大尺寸200mm真空吸样台、大范围150mmx150mm自动二维自动台阶、光学变焦系统、薄膜应力测试软件等。
	放上样品后所有操作由鼠标点击软件界面实现，无需手的动作或操作按钮。